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        可編程高低溫試驗箱的測試流程

        更新時間:2023-03-27  |  點擊率:1006
        可編程高低溫試驗箱用于模擬產(chǎn)品在氣候環(huán)境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲存、溫度循環(huán)、高溫高濕、低溫低濕、結(jié)露試驗等),應(yīng)用于國防工業(yè),航天工業(yè).自動化零組件,汽車部件,電子電器零組件,儀器儀表、材料、塑膠,化工,食品,制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品之耐熱.耐濕.耐寒.耐干性能及品質(zhì)管理工程之試驗規(guī)范,對試品在給定的環(huán)境條件下檢測產(chǎn)品本身的適應(yīng)能力與特性是否改變作出評價。
        測試流程:
        1.當(dāng)樣品斷電時,首先將溫度降至-50℃,保持4小時;樣品上電時不進行低溫測試非常重要,因為芯片本身上電時溫度會高于+20°C,所以通常上電時更容易通過低溫測試,所以必須先“凍透”,再重新上電進行測試。
        2.啟動機器,測試樣品的性能,與常溫相比性能是否正常。
        3.進行老化測試,看是否有數(shù)據(jù)對比錯誤。
        4.將溫度升至+90℃,并保持4小時。與低溫測試是相反的,芯片內(nèi)部溫度要保持在高溫狀態(tài),加熱過程中不斷電。在4小時之后,執(zhí)行測試步驟2、3和4。 
        5.高溫和低溫試驗分別要重復(fù)10次。
        如果測試過程在任何時候都不能正常工作,就被認為是測試失敗。
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